Full scan vs. Partial scan
{"Image DocumentName": "Full scan vs. Partial scan", "Image ImageDescription": "Approche full scan Modification syst\u00e9matique. Co\u00fbt mat\u00e9riel \u00e9lev\u00e9 Impact obligatoire sur le chemin critique. Approche partial scan Algorithmes de s\u00e9lection des bascules \u00e0 cha\u00eener, en fonction des contraintes (co\u00fbt, chemin critique, \u2026) et de la structure du circuit (noeuds d acc\u00e8s difficile) Possibilit\u00e9 d \u00e9viter un impact sur le chemin critique. S\u00e9lection par le concepteur. Structure pipeline acceptable (reste facilement testable) Pas de scan sur les \u00e9l\u00e9ments facilement accessibles fonctionnellement (exemple : banc de registres banalis\u00e9s dans un processeur)", "Image XResolution": "37", "Image YResolution": "37", "Image ResolutionUnit": "Pixels/Centimeter", "Image Software": "SlidePlayer", "Image YCbCrPositioning": "Centered"}